FPD在線光譜式測(cè)試解決方案
光譜式測(cè)量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了高精度的亮度、色度測(cè)量?，F(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長的測(cè)試時(shí)間。Photo Research的A-TAKT™系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。
A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，針對(duì)FPD產(chǎn)線測(cè)試不同測(cè)試應(yīng)用。具有如下總的特點(diǎn)：
| 特點(diǎn) | 優(yōu)勢(shì) |
| 采用制冷型CCD探測(cè)器 | 有效抑制暗噪聲及雜散光；可調(diào)取、使用測(cè)試對(duì)象的圖像，不需通過目鏡觀測(cè)；保持產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境中的測(cè)試穩(wěn)定性 |
| 高靈敏度，高速 | 快速測(cè)試弱光信號(hào) |
| 多孔徑光闌可選（1.0°，1.25°，1.50°，0.50°）；可定制 | 多種亮度測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍可選，滿足不同光斑尺寸等測(cè)試需求 |
| 多光譜帶寬可選（2，5，8nm） | 針對(duì)不同帶寬光源具有更好的精確度 |
| 物鏡（定焦50mm到變焦75mm的鏡頭可供選擇）；可定制 | 方便滿足客戶不同工作距離、光斑尺寸等測(cè)試需求 |
| “EasyProfile”技術(shù) | 針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象的自分析技術(shù)，使設(shè)備在確保科學(xué)級(jí)的準(zhǔn)確性和精確度前提下實(shí)現(xiàn)*快測(cè)試速度 |
| 易于開發(fā)的SDK軟件包；可定制 | 與產(chǎn)線測(cè)試需求實(shí)現(xiàn)*優(yōu)化的整合 |
| RS232和USB接口以及加固的附件； | 增加儀器在惡劣環(huán)境中的使用安全 |
| 自帶1/4-20 SAE螺紋孔 | 便于安裝、固定 |
1、V-7HS是三者中靈敏度*高、測(cè)試速度*快的機(jī)型，可在不影響測(cè)試精準(zhǔn)度和重復(fù)測(cè)試精度的前提下，*短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)*大數(shù)量的產(chǎn)品測(cè)試——毫秒時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)極低亮度測(cè)試，在僅250ms的測(cè)試時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)0.5cd/m2的微弱亮度測(cè)試（測(cè)試LED背光LCD）；幾秒鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)完整的灰度等級(jí)、Gamma和色度測(cè)試（取決于亮度等級(jí)和測(cè)試數(shù)量）等。
V-7HS：高精度，快速測(cè)量，針對(duì)于低亮測(cè)試應(yīng)用
2、V-7WD則提供了高速測(cè)量的解決方案，針對(duì)高亮背光模組、LED模組等極高精準(zhǔn)度和重復(fù)精度的*優(yōu)化測(cè)試。具備更寬的亮度測(cè)試范圍：0.002-60000 cd/m2（如測(cè)試白光LED），近乎實(shí)時(shí)的快速、高精準(zhǔn)、高重復(fù)性光譜輻射度計(jì)。
V-7WD：快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源測(cè)試
3、而V-6AQL則專為簡(jiǎn)潔的工業(yè)檢測(cè)量身定制，針對(duì)關(guān)鍵環(huán)節(jié)的測(cè)量，如AQL、IQC及OQC等提供的解決方案。一方面具有更低成本，另一方面光譜式設(shè)計(jì)保證精準(zhǔn)度和重復(fù)精度，滿足或優(yōu)于客戶的生產(chǎn)需求。
V-6AQL：經(jīng)濟(jì)、便攜的解決方案，適用于QC/QA測(cè)試
4、靈活的定制——由于產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境的不同（如工作距離、測(cè)試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等），如上述表格，A-TAKT™系列提供有不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測(cè)試需求），易于開發(fā)的SDK包以更快捷、輕松集成到用戶的ATE系統(tǒng)， 針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象的“EasyProfile”自分析技術(shù)等。
V-7HS：高精度，快速測(cè)量，針對(duì)于低亮測(cè)試應(yīng)用
2、V-7WD則提供了高速測(cè)量的解決方案，針對(duì)高亮背光模組、LED模組等極高精準(zhǔn)度和重復(fù)精度的*優(yōu)化測(cè)試。具備更寬的亮度測(cè)試范圍：0.002-60000 cd/m2（如測(cè)試白光LED），近乎實(shí)時(shí)的快速、高精準(zhǔn)、高重復(fù)性光譜輻射度計(jì)。
V-7WD：快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源測(cè)試
3、而V-6AQL則專為簡(jiǎn)潔的工業(yè)檢測(cè)量身定制，針對(duì)關(guān)鍵環(huán)節(jié)的測(cè)量，如AQL、IQC及OQC等提供的解決方案。一方面具有更低成本，另一方面光譜式設(shè)計(jì)保證精準(zhǔn)度和重復(fù)精度，滿足或優(yōu)于客戶的生產(chǎn)需求。
V-6AQL：經(jīng)濟(jì)、便攜的解決方案，適用于QC/QA測(cè)試
4、靈活的定制——由于產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境的不同（如工作距離、測(cè)試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等），如上述表格，A-TAKT™系列提供有不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測(cè)試需求），易于開發(fā)的SDK包以更快捷、輕松集成到用戶的ATE系統(tǒng)， 針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象的“EasyProfile”自分析技術(shù)等。
| 規(guī)格參數(shù) | V-7HS | V-7WD | V-6AQL |
| 探測(cè)器 | 512 | 512 | 128 |
| 制冷探測(cè)器 | 是 | 是 | 否 |
| 標(biāo)準(zhǔn)孔徑 | 1.25° | 2.0° | 1.0° |
| 物鏡 | 定焦：50mm； 變焦：75mm(定制) |
||
| 光譜帶寬 | 2nm | 8nm | 8nm |
| 亮度范圍 (白光LED測(cè)試) |
0.001-600 cd/m2 | 0.002-60000 cd/m2 | 0.6-80000 cd/m2 |
| 測(cè)試時(shí)間 (白光LED) |
[email protected]/m2 | 60ms@10,000cd/m2 | 70ms@10,000cd/m2 |
| 測(cè)試時(shí)間 (標(biāo)準(zhǔn)A光源) |
[email protected]/m2 | 75ms@10,000cd/m2 | 86ms@10,000cd/m2 |
| 亮度精確度 (標(biāo)準(zhǔn)A光源) |
±2%@0.005 cd/m2 | ±2%@0.01 cd/m2 | ±2%@0.5 cd/m2 |
| 亮度范圍 (標(biāo)準(zhǔn)A光源) |
0.0005-2,900 cd/m2 | 0.001-30,000 cd/m2 | 0.3-40,000 cd/m2 |
| 尺寸（mm） | 270×170×188 | 270×170×188 | 192×170×117 |
| 重量（kg） | 4.33 | 4.33 | 2.14 |
13810233784
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