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產(chǎn)品
類別檢索

激光器

超快激光器納秒脈沖激光器高重頻脈沖固體激光器高功率連續(xù)DPSS激光器小型固體激光器半導(dǎo)體激光器更多>>

激光測(cè)量

激光功率能量計(jì) 激光光斑分析儀激光波長(zhǎng)計(jì)與頻譜儀波前位相測(cè)量激光防護(hù)

光通訊與傳感

通訊用波長(zhǎng)計(jì)及頻譜儀通訊光源通訊儀器設(shè)備光通訊器件 OCT與傳感

設(shè)備與光學(xué)元器件

太赫茲設(shè)備與器件激光元器件儀器設(shè)備積分球標(biāo)準(zhǔn)反射板及色板

科學(xué)成像與探測(cè)

分幅相機(jī) 科學(xué)級(jí)CCD相機(jī) 科學(xué)級(jí)SCMOS相機(jī) EMCCD相機(jī) ICCD相機(jī) ISCMOS相機(jī) 更多>>

光譜儀

光柵光譜儀掌上光譜儀高光譜真空單色儀/光譜儀真空光譜系統(tǒng) 穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀更多>>

應(yīng)用系統(tǒng)方案

半導(dǎo)體光學(xué)參數(shù)檢測(cè) 等離子體裝置光譜診斷超快光譜與成像燃燒過(guò)程診斷元素在線分析遠(yuǎn)程與工業(yè)拉曼檢測(cè) 更多>>

通用儀器設(shè)備

通用科學(xué)電子儀器通用分析設(shè)備真空檢測(cè)設(shè)備通用測(cè)試設(shè)備時(shí)間與頻率設(shè)備小型恒溫器更多>>

光電傳感器

紫外線產(chǎn)品 X射線源 X射線熒光探測(cè)器軟X射線探測(cè)器紅外探測(cè)器微光探測(cè)器更多>>

光度與色度測(cè)試儀

分光輻射亮度色度計(jì) 手持光譜亮度計(jì) 照度計(jì) 成像亮度色度計(jì) 頻閃儀量子效率測(cè)試系統(tǒng) 更多>>

遙感與成像傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng)

成像傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng) 遙感校準(zhǔn)系統(tǒng)

光機(jī)電一體化系統(tǒng)

車載照明檢測(cè) 顯示測(cè)量光通訊半導(dǎo)體 3C&消費(fèi)電子激光雷達(dá)
品牌檢索

激光器激光測(cè)量光通訊與傳感設(shè)備與光學(xué)元器件科學(xué)成像與探測(cè) 光譜儀應(yīng)用系統(tǒng)方案通用儀器設(shè)備光電傳感器光度與色度測(cè)試儀遙感與成像傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng) 光機(jī)電一體化系統(tǒng)
行業(yè)檢索

工業(yè)與信息化

先進(jìn)制造
激光加工在線監(jiān)測(cè) 激光加工自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 超快微加工激光焊接匙孔監(jiān)測(cè) 分束與光斑整形鍍膜監(jiān)控無(wú)損檢測(cè) 微量氣體分析元件數(shù)量封裝清點(diǎn) 激光防護(hù)

顯示與照明
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) ACR環(huán)境對(duì)比度測(cè)試 Trulume顯示屏測(cè)試攝像頭平場(chǎng)校準(zhǔn)系統(tǒng) 傳感器量子效率測(cè)試系統(tǒng) 準(zhǔn)直均勻光源分布光度計(jì) VR/AR 測(cè)試系統(tǒng) IVL&EQE光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) LCD顯示屏光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 光源照度測(cè)試顯示屏測(cè)試玻璃/表面檢測(cè) 制程監(jiān)控 LED顯示屏測(cè)試薄膜測(cè)試光源及燈具測(cè)試表面形貌檢測(cè) 激光防護(hù) 激光剝離面板修補(bǔ)

消費(fèi)電子
健康監(jiān)測(cè) 新風(fēng)系統(tǒng)二氧化碳檢測(cè) 手機(jī)屏幕光學(xué)性能評(píng)價(jià) 電視屏幕自動(dòng)光學(xué)測(cè)試自動(dòng)化設(shè)備隔振 3C產(chǎn)品生產(chǎn)和檢測(cè)的自動(dòng)化裝置攝像頭平場(chǎng)校準(zhǔn) 傳感器量子效率測(cè)試手機(jī)鏡頭/傳感器測(cè)試 VCSEL測(cè)試數(shù)字影院光學(xué)測(cè)試 VR/AR 測(cè)試攝像頭測(cè)試激光安全認(rèn)證無(wú)損檢測(cè) AOI 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 玻璃/表面檢測(cè) 膜厚測(cè)試貼膜測(cè)試光學(xué)測(cè)試設(shè)備激光加工攝像機(jī)鏡頭測(cè)量 AR/VR 設(shè)備測(cè)量紫外切割超快微加工顯示屏測(cè)試

半導(dǎo)體與集成電路
Wafer檢測(cè) 表面形貌成像 EUV光源檢測(cè) 失效分析 EUV器件檢測(cè) 多晶硅片二維定向 AOI 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 無(wú)損檢測(cè) 微量氣體分析

通訊與信息技術(shù)
FBG刻寫器件網(wǎng)絡(luò)測(cè)試光學(xué)A/D 光源測(cè)試光纖準(zhǔn)直 PLC測(cè)試 GPS/北斗授時(shí) 光通信器件生產(chǎn)和檢驗(yàn)系統(tǒng)

激光產(chǎn)業(yè)
激光功率能量測(cè)試光束品質(zhì)分析 FBG刻寫波長(zhǎng)測(cè)試激光顯示測(cè)試激光器光路調(diào)整激光波前測(cè)試激光防護(hù) 激光器隔振裝置

工業(yè)檢測(cè)
氣體檢測(cè) 平整度、翹曲度測(cè)試系統(tǒng) 傳感器量子效率測(cè)試

汽車與交通
發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒診斷車身及電池焊接監(jiān)測(cè) 激光雷達(dá) PIV HUD 膜厚測(cè)試儀道路監(jiān)控系統(tǒng) 火車輪轂溫度測(cè)試儀車燈儀表盤測(cè)試車燈照度測(cè)試儀表盤測(cè)試汽車整車光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 汽車照明檢測(cè)方案轎車整車熱成像檢測(cè)方案激光雷達(dá)生產(chǎn)和檢測(cè)位移機(jī)構(gòu) 激光雷達(dá)反射測(cè)試

能源動(dòng)力

清潔燃燒
LII PLIF/LIF PIV

新能源與儲(chǔ)能
超快光譜學(xué)/超快加工太陽(yáng)能電池片檢測(cè) 量子效率測(cè)試溶液粒徑分析

農(nóng)林與資源

農(nóng)林與資源
生物自熒光 LIBS 精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)/資源勘探生物拉曼礦石分選氣體分析儀 TOC有機(jī)總碳測(cè)試土壤中二氧化碳測(cè)試

科學(xué)研究

分析與測(cè)試
熒光壽命量子點(diǎn) 光學(xué)測(cè)試紅外光譜測(cè)試時(shí)間分辨測(cè)試時(shí)間分辨光譜真空分析溶液粒徑分析薄膜膜厚測(cè)量拉曼測(cè)量光譜激發(fā) 反射光譜太赫茲光譜與成像激光測(cè)量 LIBS XRF測(cè)試 LIBS/熒光/拉曼/ 吸收光譜光譜測(cè)試

催化與物理化學(xué)
超快光譜學(xué) 激光閃光光解 VMI 時(shí)間分辨測(cè)量薄膜膜厚測(cè)量量子效率測(cè)試溶液粒徑分析真空分析時(shí)間分辨光譜

高能與核科學(xué)
Tokamak診斷 LIBS 時(shí)間分辨測(cè)量真空分析時(shí)間分辨光譜高能輻射測(cè)試

超快與強(qiáng)場(chǎng)科學(xué)
激光測(cè)量超快激光測(cè)試泵浦源軟X射線診斷硬X射線診斷超快激光器自適應(yīng)光學(xué) 太赫茲器件特種激光鏡片物理影像 VMI 光譜診斷時(shí)間分辨測(cè)量時(shí)間分辨光譜飛秒激光Z掃描中電動(dòng)滑臺(tái)

原子分子與量子物理
原子冷卻激光測(cè)量量子光學(xué) 光梳激光器/光梳測(cè)量時(shí)間分辨測(cè)量量子效率測(cè)試溶液粒徑分析頻譜分析頻率計(jì)數(shù) 亮度及光譜測(cè)試

天文觀測(cè)
光度/輻射度測(cè)試自適應(yīng)光學(xué) 微弱信號(hào)處理雜散光測(cè)試系統(tǒng) 天文相機(jī)/探測(cè)器校準(zhǔn)

考古與文物鑒定
LIBS 壁畫文物顏色檢測(cè)

大科學(xué)裝置
X射線成像/光譜可見光成像 PET-CT 光學(xué)授時(shí)與同步時(shí)間分辨測(cè)量單晶/合金信號(hào)同步成像

生物與健康

組織成像
CARS/SRS 光聲光譜與成像 OCT 血管成像顯微成像顯微位移機(jī)構(gòu) 藍(lán)光危害評(píng)價(jià) 光源頻閃測(cè)試眩光測(cè)試紫外殺菌燈輻射度測(cè)量防曬指數(shù)測(cè)量

生物顯微
顯微成像 CARS/SRS 光束整形/渦旋光光鑷/ 生物熒光細(xì)胞干物質(zhì)計(jì)量生物熒光拉曼生物自熒光熒光壽命拉曼測(cè)量醫(yī)學(xué)光度色度測(cè)試醫(yī)用照明測(cè)試

臨床醫(yī)學(xué)
醫(yī)療激光認(rèn)證化學(xué)發(fā)光測(cè)試儀光聲光譜與成像激光醫(yī)美血球分析多通道光子數(shù)據(jù)采集 CT/DR 呼吸末CO2、麻醉氣體血氧測(cè)試儀

化學(xué)與生物分析
伽馬和阿爾法輻射測(cè)試儀氣體分析生化分析薄膜膜厚測(cè)量量子效率測(cè)試溶液粒徑分析

環(huán)境監(jiān)測(cè)
TDLAS 激光雷達(dá) 熒光檢測(cè) 大氣雷達(dá)/LIBS/環(huán)境質(zhì)譜環(huán)境質(zhì)譜環(huán)境檢測(cè) 地物高光譜拉曼測(cè)量食品異物檢測(cè) VOC有害氣體檢測(cè) TOC有機(jī)總碳測(cè)試

食藥環(huán)偵

食品安全測(cè)試
近紅外光譜測(cè)試拉曼測(cè)量薄膜膜厚測(cè)量溶液粒徑分析食品中異物檢測(cè)

刑偵科學(xué)
指紋鑒定拉曼測(cè)量背散射成像 X射線安檢火災(zāi)探測(cè)

安防

無(wú)損檢測(cè)
人體/行李違禁物檢測(cè)

航空航天

空天動(dòng)力
PIV PLIF/PIV 燃燒診斷 PLIF 雜散光吸收激光雷達(dá) 單晶/合金遙感輻射度標(biāo)定太陽(yáng)/星光光譜模擬遙感鏡頭雜散光模擬測(cè)試

空地遙感
空間觀測(cè)與LIDAR 空間光通訊液晶可調(diào)濾光片雜散光吸收遙感高光譜成像深空成像系統(tǒng)標(biāo)定高光譜成像校準(zhǔn)

計(jì)量檢疫

時(shí)頻基準(zhǔn)
原子冷卻光梳時(shí)間頻率標(biāo)定

激光認(rèn)證
光度色度計(jì)量照度計(jì)量

激光器篩選

波長(zhǎng)范圍：
全部深紫外（<200nm）紫外 (200 ~ 400nm）藍(lán)紫 (400 ~ 500nm）黃綠 (500 ~ 600nm) 紅色 (600 ~ 800nm) 近紅外 (0.8 ~ 2.5μm）中遠(yuǎn)紅外 (>2.5μm) 可調(diào)諧

輸出方式：
全部連續(xù)或準(zhǔn)連續(xù) 脈沖

平均功率：
全部 <1mW 1mW ~ 1W 1W ~ 10W 10W ~ 100W >100W

單脈沖能量：
全部 <1nJ 1nJ ~ 1μJ 1μJ ~ 1mJ 1mJ ~ 100mJ 100mJ ~ 1J >1J 不適用

脈沖寬度：
全部飛秒（<1ps）皮秒（1ps ~ 1ns）納秒（1ns ~ 1μs）長(zhǎng)脈沖（>1μs）不適用

重復(fù)頻率：
全部 1~999Hz 1kHz~10kHz 10kHz~100kHz 100kHz~1MHz 1MHz~100MHz >100MHz 不適用

線寬：
全部窄線寬不適用

科學(xué)相機(jī)篩選

相機(jī)類型：
全部 CCD EMCCD sCMOS ICCD NIR CCD SWIR 直接x-ray探測(cè)器非直接X-ray探測(cè)器中子相機(jī)

像面尺寸：
全部 ≤512ⅹ512 512ⅹ512~ 1024ⅹ1024 1024ⅹ1024~ 2048ⅹ2048 2048ⅹ2048~ 4096ⅹ4096 ≥4096ⅹ4096

通訊方式：
全部 USB 2.0 USB 3.0 Fibre Optic CoaXPress (4 Lane CXP-6) Camera Link Gigabit Ethernet

芯片感光方式：
全部前照式背照式

響應(yīng)范圍：
全部 200-1100nm 200-900nm 600-1700nm 800-2200nm 900-1700nm EUV-1keV NIR-20KeV 2-100keV 1-300KeV

最快全畫幅幀率（fps）：
全部 <1 1~ 50 50~ 100 >100

像素：
全部 1~ 5μm 5~ 10μm 10~ 15μm 15~ 20μm 20~ 25μm 25~ 30μm ≥30μm
010-62634840
資源

前沿技術(shù) 技術(shù)文章資料下載快速操作指南視頻
應(yīng)用

激光相關(guān) 成像應(yīng)用光度色度光譜應(yīng)用光電傳感器其他
服務(wù)

樣品測(cè)試常見問(wèn)題售后服務(wù)
新聞

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美國(guó) Moxtek

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Moxtek小型X光管

介紹： 小型X光管主要應(yīng)用于手持式以及便攜式X射線熒光光譜儀（XRF）。我們可以提供不同靶材及外形尺寸小型X射線管。

品牌： 美國(guó) Moxtek

型號(hào)： TUB00082/83,TUB00125,TUB00190,TUB00045/46,TUB00050,TUB00154/55

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