動態(tài)干涉儀Kaleo-Multiwave
簡 述：
有別于基于傳統(tǒng)Fizeau 干涉儀的方法，采用位相檢測方法直接構(gòu)建的動態(tài)干涉 儀既不需要移動待測元件多次曝光，也不需要采用偏振等復(fù)雜的光學(xué)手段，針 對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差；Kaleo-Multiwave 多 色動態(tài)干涉儀可用于光學(xué)元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統(tǒng)測試 及實時調(diào)整等。大動態(tài)范圍像差測試能力使其可測平面/ 球面波而無需中繼鏡， 無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。 Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源，可以對大口徑鏡片進行直接或?qū)Ρ葴y量
品 牌：
法國 PHASICS
產(chǎn)品型號：
- Kaleo-Multiwave
有別于基于傳統(tǒng)Fizeau 干涉儀的方法，采用位相檢測方法直接構(gòu)建的動態(tài)干涉儀既不需要移動待測元件多次曝光，也不需要采用偏振等復(fù)雜的光學(xué)手段，針對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差；Kaleo-Multiwave 多色動態(tài)干涉儀可用于光學(xué)元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統(tǒng)測試及實時調(diào)整等。大動態(tài)范圍像差測試能力使其可測平面/ 球面波而無需中繼鏡，無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。
Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源，可以對大口徑鏡片進行直接或?qū)Ρ葴y量。
Fizeau 干涉儀（左）與Kaleo-MTF（右）測試鏡片結(jié)果比較
|
光路結(jié)構(gòu) |
雙通路測試 |
|
測量能力 |
反射波前面型測量，透射元件波差測量 |
|
光源 |
標準：1/2 路工作波長，最高可集成 8 路波長 |
|
波長選擇 |
193nm ~ 14 m，如 266、355、405，550、625、780、 940、1050nm，紅外 1.55、2、3.39、10.6 m 等 |
|
有效口徑 |
5.1”，130mm |
|
光學(xué)中心高度 |
108mm |
|
對準功能 |
實時相位 / 澤尼克多項式顯示 |
|
視場角對準范圍 |
±2° |
|
可調(diào)對焦范圍 |
±2.5m |
|
使用環(huán)境 |
無需隔振 |
|
RMS 可重復(fù)性 |
<0.7 nm |
|
測量精度 |
80nm p-v |
|
動態(tài)范圍（離焦值） |
500 條紋 (SFE = 150 m） |
|
可測反射率范圍 |
4% ~ 100% |
Fizeau 干涉儀（左）與Kaleo-MTF（右）測試鏡片結(jié)果比較
13810233784
在線咨詢
