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    OLED-IVL及視角測(cè)量系統(tǒng)

    簡(jiǎn)  述:
    OLED-IVL及視角測(cè)量系統(tǒng)是集成PR系列亮度計(jì)、源表、CCD精準(zhǔn)對(duì)位以及多軸高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的一整套測(cè)試方案。具有多工位測(cè)量、變溫測(cè)量及視覺(jué)測(cè)量功能。能滿足用戶(hù)OLED研發(fā)與量產(chǎn)階段IVL及光電數(shù)據(jù)測(cè)試的各種個(gè)性化需求。
    品  牌:
    Zolix
    產(chǎn)品型號(hào):
    • OLED-IVL

    簡(jiǎn)介

    OLED-IVL及視角測(cè)量系統(tǒng),是集成PR系列成像亮度計(jì)、源表、CCD精準(zhǔn)對(duì)位以及多軸高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的一整套測(cè)試方案。該系列設(shè)備具有4款標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型,可滿足客戶(hù)IVL測(cè)試時(shí)單工位、多工位、變溫以及帶視角測(cè)量等的不同測(cè)試需求。為廣大用戶(hù)在OLED器件研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié)提供了便捷性與可靠性。

    1、系統(tǒng)主要測(cè)試參數(shù)
    • IVL曲線繪制:IV曲線、電流密度、電流-亮度曲線、光效曲線、電流效率、流明效率
    • 光學(xué)參數(shù):亮度、XYZ三刺激值、CIE1931色坐標(biāo)x,y、CIE1976色坐標(biāo)u’ v’、峰值波長(zhǎng)、光譜輻射度數(shù)據(jù)、CCT、EQE等
    • 電學(xué)參數(shù):電流、電壓、功率等
    2、標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型

    2.1單工位緊湊型OLED器件IVL及視角測(cè)量系統(tǒng)(OLED-IVL-Mini-M/A)

    • 經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的科研/研發(fā)階段OLED器件IVL測(cè)試系統(tǒng)
    • 適用于對(duì)空間要求嚴(yán)格的測(cè)量場(chǎng)景,可放置于手套箱用于未封裝器件使用。
    • 可集成轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)量視角,可集成EQE積分球。
    • 可按照需求定制測(cè)試距離兼容近攝頭及MS-75標(biāo)準(zhǔn)鏡頭。支持治具的靈活定制與切換。
    • 手動(dòng)測(cè)量版和全自動(dòng)測(cè)量版本可選。


    積分球(選配)

    測(cè)量原理:

    2.2單工位OLED器件IVL及視角測(cè)量系統(tǒng)(OLED-IVL-LAB )

    • 主要用于實(shí)驗(yàn)室科研或者產(chǎn)品研發(fā)階段的IVL測(cè)試。
    • 可拓展成多工位機(jī)型,也可取消預(yù)留工位從而做小型化設(shè)計(jì)。
    • 滿足器件高低溫IVL的測(cè)試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制,特殊溫度可定制。
    • 滿足器件不同視角的測(cè)試。視角測(cè)量范圍最大可支持±90°,視角分辨率可達(dá)0.1°。
    • 配備完整的視覺(jué)相機(jī),可有效確保檢測(cè)中心與產(chǎn)品中心一致。
    • 運(yùn)動(dòng)直線模組重復(fù)精度為±0.01mm,旋轉(zhuǎn)模組重復(fù)定位精度±0.1°,有效提高測(cè)試過(guò)程中的對(duì)位效率,提高準(zhǔn)確性。

    檢測(cè)原理

    2.3多工位帶視角OLED器件IVL測(cè)量系統(tǒng)(OLED-IVL-FA )

    • 系統(tǒng)配備多通道源表,可支持多工位測(cè)量(可根據(jù)具體器件和發(fā)光點(diǎn)數(shù)量定制)。
    • 滿足器件高低溫IVL的測(cè)試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制,特殊溫度可定制。
    • 滿足器件不同視角的測(cè)試。視角測(cè)量范圍最大可支持±90°,視角分辨率可達(dá)0.1°。
    • 配備完整的視覺(jué)相機(jī),可有效確保檢測(cè)中心與產(chǎn)品中心一致。
    • 運(yùn)動(dòng)直線模組重復(fù)精度為±0.01mm,旋轉(zhuǎn)模組重復(fù)定位精度±0.1°,有效提高測(cè)試過(guò)程中的對(duì)位效率,提高準(zhǔn)確性。


    多工位旋轉(zhuǎn)治具

    測(cè)試原理

    2.4多工位OLED器件IVL綜合測(cè)量系統(tǒng)(OLED-IVL-FA-PRO )

    系統(tǒng)特點(diǎn):

    • 系統(tǒng)配備多通道源表,可支持多工位測(cè)量(可根據(jù)具體器件和發(fā)光點(diǎn)數(shù)量定制)。
    • 同時(shí)配備多組治具,支持常溫、高低溫、不同角度的多種需求混合測(cè)試。
    • 溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制,特殊溫度可定制。
    • 視角測(cè)量范圍最大可支持±90°,視角分辨率可達(dá)0.1°。
    • 配備完整的視覺(jué)相機(jī),可有效確保檢測(cè)中心與產(chǎn)品中心一致。
    • 運(yùn)動(dòng)直線模組重復(fù)精度為±0.01mm,旋轉(zhuǎn)模組重復(fù)定位精度±0.1°,有效提高測(cè)試過(guò)程中的對(duì)位效率,提高準(zhǔn)確性。

    測(cè)試原理:

     

    3、標(biāo)準(zhǔn)軟件

    IVL測(cè)試主界面

    手動(dòng)界面

    光譜圖

    CIE

    IVL曲線

    相關(guān)產(chǎn)品

    資料下載

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