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    超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)

    簡  述:
    一套用于皮秒時(shí)間分辨的超快熒光測試系統(tǒng)解決方案,為您提供ps-ns-us 量級的超快熒光壽命或超快等離子體衍化過程的快速測量。
    品  牌:
    Zolix
    產(chǎn)品型號:
    • -

    系統(tǒng)主要功能指標(biāo):

    • 寬光譜測量范圍:UV-VIS-NIR, 200-900nm;

    • 高系統(tǒng)時(shí)間分辨率: <=5ps

    • 壽命衰減測量時(shí)間范圍:<=50ps—100us 

    • 高系統(tǒng)光譜分辨率: <0.1nm

    • 寬單次成譜范圍:  >=200nm

    • 靜態(tài)(穩(wěn)態(tài))光譜采集,

    • 瞬態(tài)時(shí)間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線

    • 系統(tǒng)集成整體控制及數(shù)據(jù)處理軟件

    超快時(shí)間分辨光譜系統(tǒng) 是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)處理軟件組成。光譜儀對入射光信號進(jìn)行分光,分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上,激發(fā)出的光電子通過陽極加速,入射到偏轉(zhuǎn)場中的電極間,此時(shí)電壓加在偏轉(zhuǎn)電極上,光電子被電場偏轉(zhuǎn),激射熒光屏,以光信號的形式成像在熒光屏上。轉(zhuǎn)換后的光信號還可以再通過圖像增強(qiáng)器進(jìn)行能量放大,并在圖像增強(qiáng)器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機(jī)采集熒光屏上信號。因?yàn)殡娮拥钠D(zhuǎn)與其承受的偏轉(zhuǎn)電場成正比,因此,通過電極的時(shí)間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來,也就是將入射光的時(shí)間軸轉(zhuǎn)換成了熒光屏空間軸。系統(tǒng)控制軟件用于整個(gè)系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置、功能切換、數(shù)據(jù)采集等,圖像工作站用于采集數(shù)據(jù)處理分析

    主要應(yīng)用方向

    • 超快化學(xué)發(fā)光

    • 超快物理發(fā)光

    • 超快放電過程

    • 超快閃爍體發(fā)光

    • 時(shí)間分辨熒光光譜,熒光壽命,

    • 半導(dǎo)體材料時(shí)間分辨PL譜

    • 鈣鈦礦材料時(shí)間分辨PL譜

    • 瞬態(tài)吸收譜,時(shí)間分辨拉曼光譜測量

    • 光通訊,量子器件的響應(yīng)測量

    • 自由電子激光,超短激光技術(shù)

    • 各種等離子體發(fā)光 

    • 湯姆遜散射,激光雷達(dá)

    • 。。。。。。

     

     

    光譜儀建議選型參數(shù)列表

    光譜儀型號

    Omni-λ2002i

    Omni-λ3004i

    Omni-λ5004i

    Omni-λ7504i

    光譜儀焦距

    200mm

    320mm

    500mm

    750mm

    相對孔徑

    F/3.5

    F/4.2

    F/6.5

    F/9.7

    光譜分辨率(1200l/mm)

    0.3nm

    0.1nm

    0.08nm

    0.05nm

    波長準(zhǔn)確度

    +/-0.2nm

    +/-0.2nm

    +/-0.15nm

    +/-0.1nm

    倒線色散(1200l/mm)

    3.6nm/mm

    2.3nm/mm

    1.7nm/mm

    1.1nm/mm

    光柵尺寸

    50*50mm

    68*68mm

    68*68mm

    68*68mm

    光柵臺

    雙光柵

    三光柵

    三光柵

    三光柵

    與探測器耦合

    中繼光路1:1耦合,配合二維焦面精密調(diào)節(jié)一體化底板

    系統(tǒng)光譜分辨率(1200l/mm)

    <=0.3nm

    <=0.2nm

    <=0.1nm

    <0.08nm

    一次攝譜范圍(150 l/mm)

    >230nm

    >150nm

    >90nm

    >60nm

    光譜儀入口選項(xiàng)

    光纖及光纖接口,標(biāo)準(zhǔn)熒光樣品室,鏡頭收集耦合,共聚焦顯微收集耦合等

    多系統(tǒng)靈活組合

    超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)既可以與飛秒超快光源配合完成獨(dú)立的光譜測試,也可以與卓立漢光的其他系統(tǒng)比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng),TAM900寬場瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng),以及低溫制冷室,飛秒&皮秒激光器等配合完成更為復(fù)雜全面的超快測試。

    Zolix其他可配合超快測量系統(tǒng)

    lRTS2& FLIM 顯微熒光壽命成像系統(tǒng)

    • 光譜掃描范圍:200-900nm(可拓展)

    • 最小時(shí)間分辨率:16ps

    • 熒光壽命測量范圍:500ps-1μs@ 皮秒脈沖激光器

    • 激發(fā)源: 375nm- 670nm 皮秒脈沖激光器可選,或使用飛秒光源

    • 科研級正置顯微鏡及電動位移臺

    • 空間分辨率:≤1μm@100X 物鏡@405nm 皮秒脈沖激光器

    • OmniFluo-FM 熒光壽命成像專用軟件

    Omni-TAM900 寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)

    • 測量模式:

    • 1:點(diǎn)泵浦-寬場探測:測量載流子遷移和熱導(dǎo)率等;
    • 2:寬場泵浦-寬場探測:測量載流子分布和物理態(tài)的空間異質(zhì)性等。
    • 探測器:sCMOS相機(jī)

    • 成像空間分辨率:優(yōu)于500nm

    • 載流子遷移定位精度 優(yōu)于30nm

    • 時(shí)間延時(shí)范圍:0-4ns或0-8ns可選

    • 搭配倒置顯微鏡,可兼容低溫,探針臺,電學(xué)調(diào)控等模塊

    <20ps 的鈣鈦礦薄膜ASE 發(fā)光壽命曲線

    相關(guān)產(chǎn)品

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