iDus 420系列光譜CCD探測器
簡 述：
iDus 420系列深度制冷科學(xué)級光譜CCD 基于1024×255 規(guī)格CCD 芯片，包含多種選項來滿足不同的實驗需求。采用真空密封技術(shù)，保證了制冷溫度及耐久性。
品 牌：
英國 Andor
產(chǎn)品型號：
- iDus 420
iDus 420 系列深度制冷科學(xué)級光譜CCD 基于1024×255 規(guī)格CCD 芯片，包含多種選項來滿足不同的實驗需求。采用真空密封技術(shù)，保證了制冷溫度及耐久性。
iDus 420系列光譜CCD探測器主要特點
iDus 420系列光譜CCD探測器主要特點
• 峰值量子效率>95%
• TE 制冷，*低-100℃
• UltraVac™ 真空密封技術(shù)，保證5 年真空質(zhì)保
• 單光窗設(shè)計，將光損失降至*低
• Fringe suppression 技術(shù)（條紋抑制），消除背感光CCD的etalon( 干涉)效應(yīng)
• Dual AR 雙鍍膜選項，同時提升紫外及近紅外波段量子效率
iDus 420系列光譜CCD探測器技術(shù)參數(shù)指標(biāo)：
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型號 |
DV420A |
DU420A |
DU420A-Bx-DD |
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芯片類型 |
BV：背感光，可見波段優(yōu)化 BU：背感光，紫外增強350nm 優(yōu)化 BU2：背感光，紫外增強250nm 優(yōu)化 BVF：背感光，可見光波段優(yōu)化以及消除近紅外etalon 鍍膜 OE：開放電極 |
BR-DD：背感光深耗盡CCD。帶有消除近紅外波段的etalon 鍍膜 BEX2-DD：背感光深耗盡CCD。帶有消除近紅外波段的etalon 鍍膜以及波段擴展雙層抗反射膜 |
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有效像素 |
1024×255 |
1024×256 |
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像元尺寸 |
26μm×26μm |
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探測面尺寸 |
26.6 mm×6.6 mm |
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最大光譜采集速度 |
88 (10 rows crop mode), 75 (Full Vertical Bin), 65 ( 開放電極, Full Vertical Bin) |
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線性度 |
>99% |
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最小讀出噪聲 |
OE：<4 e- ，BU, BU2, BVF：<6 e- |
BR-DD：<4 e- |
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暗電流 |
OE：0.0004 e- /pixel/sec @-100℃， BU/BU2：0.002 e- /pixel/sec @-100℃ , BVF：0.002 e- /pixel/sec @-100℃ |
Bx-DD：0.008 e- /pixel/sec @-100℃ |
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最低制冷溫度 |
-70℃ |
-100℃ |
-100℃ |
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光窗類型 |
單石英窗口，無鍍膜。防反射膜或MgF2 可選 |
BR-DD：單石英窗口, 防反射鍍膜（900nm 優(yōu)化） BEX2-DD：單石英窗口，無鍍膜 |
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