OP‐XCT軟X-RAY光譜儀
簡 述：
OP‐XCT軟X-RAY光譜儀既可以作為時間補償雙單色儀，也能用于成像光譜?？稍\斷光譜儀研究形成HHG 激光源，也可以改變出射狹縫處鏡面位置，輸出單色光照射樣品。
品 牌：
美國 Mcpherson
產品型號：
- OP‐XCT
OP-XCT 既可以作為時間補償雙單色儀，也能用于成像光譜?？稍\斷光譜儀研究形成HHG 激光源，也可以改變出射狹縫處鏡面位置，輸出單色光照射樣品。
軟X-RAY 光譜儀列表
o= 標準或者可選項，單道多道指的是探測器
|
型號 |
波段 (nm) |
光譜分辨率 (nm) |
焦長 (mm) |
單道 |
多道 |
成像 |
真空 |
高真空 |
光學設計 |
|
248/310G |
<1-310 |
0.018 |
1,000 |
o |
o |
|
o |
o |
掠入射羅蘭圓結構 |
|
251 |
10-170 |
0.05 |
292 |
|
o |
o |
o |
o |
VLS 平場超環(huán)面 |
|
251MX |
1-20 |
0.02 |
5,649 |
|
o |
|
o |
o |
VLS 平場光柵 |
|
XCT |
8-120 |
0.1 |
2,000 |
o |
o |
o |
o |
o |
掠入射 C-T 結構，8° AOI |
|
OP-XCT |
8-120 |
0.08 |
800 |
o |
o |
o |
o |
o |
掠入射 C-T 結構，5° AOI |
掠入射C-T 結構
• 基于傳統(tǒng)C-T 結構
• 掠入射 >80 度入射角
• 采用平面光柵
• 良好點到點成像效果
• 高通光量
• 單點掃描或CCD 成像探測
• 光譜范圍： 8-120nm
• 代表型號：XCT,OP-XCT
13810233784
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