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棱鏡耦合儀Model 2010
介紹: Metricon公司的Model 2010棱鏡耦合儀使用先進(jìn)的光波導(dǎo)技術(shù),對(duì)電介質(zhì)及聚合物膜的膜厚和折射率/ 雙折射進(jìn)行快速及準(zhǔn)確的測量。對(duì)于許多薄膜及光波導(dǎo)用途,Model 2010 提供了比以橢圓光度法或分光光度法為基礎(chǔ)的傳統(tǒng)儀器更獨(dú)特的技術(shù)。品牌: 美國 Metricon型號(hào): Model 2010 -

橢圓偏振光測量儀FE5000
介紹: 通過自動(dòng)多角度橢圓偏振光測量儀實(shí)現(xiàn)高速的薄膜膜厚測量和高精度的光學(xué)常數(shù)解析品牌: 日本 大塚電子型號(hào): FE5000 -

OPTM 半導(dǎo)體膜厚測試儀
介紹: 測量目標(biāo)膜的絕對(duì)反射率,實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測試! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚電子型號(hào): optm

































































































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