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產(chǎn)品
類別檢索

激光器

超快激光器納秒脈沖激光器高重頻脈沖固體激光器高功率連續(xù)DPSS激光器小型固體激光器半導(dǎo)體激光器更多>>

激光測(cè)量

激光功率能量計(jì) 激光光斑分析儀激光波長(zhǎng)計(jì)與頻譜儀波前位相測(cè)量激光防護(hù)

光通訊與傳感

通訊用波長(zhǎng)計(jì)及頻譜儀通訊光源通訊儀器設(shè)備光通訊器件 OCT與傳感

設(shè)備與光學(xué)元器件

太赫茲設(shè)備與器件激光元器件儀器設(shè)備積分球標(biāo)準(zhǔn)反射板及色板

科學(xué)成像與探測(cè)

分幅相機(jī) 科學(xué)級(jí)CCD相機(jī) 科學(xué)級(jí)SCMOS相機(jī) EMCCD相機(jī) ICCD相機(jī) ISCMOS相機(jī) 更多>>

光譜儀

光柵光譜儀掌上光譜儀高光譜真空單色儀/光譜儀真空光譜系統(tǒng) 穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀更多>>

應(yīng)用系統(tǒng)方案

半導(dǎo)體光學(xué)參數(shù)檢測(cè) 等離子體裝置光譜診斷超快光譜與成像燃燒過程診斷元素在線分析遠(yuǎn)程與工業(yè)拉曼檢測(cè) 更多>>

通用儀器設(shè)備

通用科學(xué)電子儀器通用分析設(shè)備真空檢測(cè)設(shè)備通用測(cè)試設(shè)備時(shí)間與頻率設(shè)備小型恒溫器更多>>

光電傳感器

紫外線產(chǎn)品 X射線源 X射線熒光探測(cè)器軟X射線探測(cè)器紅外探測(cè)器微光探測(cè)器更多>>

光度與色度測(cè)試儀

分光輻射亮度色度計(jì) 手持光譜亮度計(jì) 照度計(jì) 成像亮度色度計(jì) 頻閃儀量子效率測(cè)試系統(tǒng) 更多>>

遙感與成像傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng)

成像傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng) 遙感校準(zhǔn)系統(tǒng)

光機(jī)電一體化系統(tǒng)

車載照明檢測(cè) 顯示測(cè)量光通訊半導(dǎo)體 3C&消費(fèi)電子激光雷達(dá)
品牌檢索

激光器激光測(cè)量光通訊與傳感設(shè)備與光學(xué)元器件科學(xué)成像與探測(cè) 光譜儀應(yīng)用系統(tǒng)方案通用儀器設(shè)備光電傳感器光度與色度測(cè)試儀遙感與成像傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng) 光機(jī)電一體化系統(tǒng)
行業(yè)檢索

工業(yè)與信息化

先進(jìn)制造
激光加工在線監(jiān)測(cè) 激光加工自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 超快微加工激光焊接匙孔監(jiān)測(cè) 分束與光斑整形鍍膜監(jiān)控無損檢測(cè) 微量氣體分析元件數(shù)量封裝清點(diǎn) 激光防護(hù)

顯示與照明
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) ACR環(huán)境對(duì)比度測(cè)試 Trulume顯示屏測(cè)試攝像頭平場(chǎng)校準(zhǔn)系統(tǒng) 傳感器量子效率測(cè)試系統(tǒng) 準(zhǔn)直均勻光源分布光度計(jì) VR/AR 測(cè)試系統(tǒng) IVL&EQE光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) LCD顯示屏光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 光源照度測(cè)試顯示屏測(cè)試玻璃/表面檢測(cè) 制程監(jiān)控 LED顯示屏測(cè)試薄膜測(cè)試光源及燈具測(cè)試表面形貌檢測(cè) 激光防護(hù) 激光剝離面板修補(bǔ)

消費(fèi)電子
健康監(jiān)測(cè) 新風(fēng)系統(tǒng)二氧化碳檢測(cè) 手機(jī)屏幕光學(xué)性能評(píng)價(jià) 電視屏幕自動(dòng)光學(xué)測(cè)試自動(dòng)化設(shè)備隔振 3C產(chǎn)品生產(chǎn)和檢測(cè)的自動(dòng)化裝置攝像頭平場(chǎng)校準(zhǔn) 傳感器量子效率測(cè)試手機(jī)鏡頭/傳感器測(cè)試 VCSEL測(cè)試數(shù)字影院光學(xué)測(cè)試 VR/AR 測(cè)試攝像頭測(cè)試激光安全認(rèn)證無損檢測(cè) AOI 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 玻璃/表面檢測(cè) 膜厚測(cè)試貼膜測(cè)試光學(xué)測(cè)試設(shè)備激光加工攝像機(jī)鏡頭測(cè)量 AR/VR 設(shè)備測(cè)量紫外切割超快微加工顯示屏測(cè)試

半導(dǎo)體與集成電路
Wafer檢測(cè) 表面形貌成像 EUV光源檢測(cè) 失效分析 EUV器件檢測(cè) 多晶硅片二維定向 AOI 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 無損檢測(cè) 微量氣體分析

通訊與信息技術(shù)
FBG刻寫器件網(wǎng)絡(luò)測(cè)試光學(xué)A/D 光源測(cè)試光纖準(zhǔn)直 PLC測(cè)試 GPS/北斗授時(shí) 光通信器件生產(chǎn)和檢驗(yàn)系統(tǒng)

激光產(chǎn)業(yè)
激光功率能量測(cè)試光束品質(zhì)分析 FBG刻寫波長(zhǎng)測(cè)試激光顯示測(cè)試激光器光路調(diào)整激光波前測(cè)試激光防護(hù) 激光器隔振裝置

工業(yè)檢測(cè)
氣體檢測(cè) 平整度、翹曲度測(cè)試系統(tǒng) 傳感器量子效率測(cè)試

汽車與交通
發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒診斷車身及電池焊接監(jiān)測(cè) 激光雷達(dá) PIV HUD 膜厚測(cè)試儀道路監(jiān)控系統(tǒng) 火車輪轂溫度測(cè)試儀車燈儀表盤測(cè)試車燈照度測(cè)試儀表盤測(cè)試汽車整車光學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 汽車照明檢測(cè)方案轎車整車熱成像檢測(cè)方案激光雷達(dá)生產(chǎn)和檢測(cè)位移機(jī)構(gòu) 激光雷達(dá)反射測(cè)試

能源動(dòng)力

清潔燃燒
LII PLIF/LIF PIV

新能源與儲(chǔ)能
超快光譜學(xué)/超快加工太陽能電池片檢測(cè) 量子效率測(cè)試溶液粒徑分析

農(nóng)林與資源

農(nóng)林與資源
生物自熒光 LIBS 精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)/資源勘探生物拉曼礦石分選氣體分析儀 TOC有機(jī)總碳測(cè)試土壤中二氧化碳測(cè)試

科學(xué)研究

分析與測(cè)試
熒光壽命量子點(diǎn) 光學(xué)測(cè)試紅外光譜測(cè)試時(shí)間分辨測(cè)試時(shí)間分辨光譜真空分析溶液粒徑分析薄膜膜厚測(cè)量拉曼測(cè)量光譜激發(fā) 反射光譜太赫茲光譜與成像激光測(cè)量 LIBS XRF測(cè)試 LIBS/熒光/拉曼/ 吸收光譜光譜測(cè)試

催化與物理化學(xué)
超快光譜學(xué) 激光閃光光解 VMI 時(shí)間分辨測(cè)量薄膜膜厚測(cè)量量子效率測(cè)試溶液粒徑分析真空分析時(shí)間分辨光譜

高能與核科學(xué)
Tokamak診斷 LIBS 時(shí)間分辨測(cè)量真空分析時(shí)間分辨光譜高能輻射測(cè)試

超快與強(qiáng)場(chǎng)科學(xué)
激光測(cè)量超快激光測(cè)試泵浦源軟X射線診斷硬X射線診斷超快激光器自適應(yīng)光學(xué) 太赫茲器件特種激光鏡片物理影像 VMI 光譜診斷時(shí)間分辨測(cè)量時(shí)間分辨光譜飛秒激光Z掃描中電動(dòng)滑臺(tái)

原子分子與量子物理
原子冷卻激光測(cè)量量子光學(xué) 光梳激光器/光梳測(cè)量時(shí)間分辨測(cè)量量子效率測(cè)試溶液粒徑分析頻譜分析頻率計(jì)數(shù) 亮度及光譜測(cè)試

天文觀測(cè)
光度/輻射度測(cè)試自適應(yīng)光學(xué) 微弱信號(hào)處理雜散光測(cè)試系統(tǒng) 天文相機(jī)/探測(cè)器校準(zhǔn)

考古與文物鑒定
LIBS 壁畫文物顏色檢測(cè)

大科學(xué)裝置
X射線成像/光譜可見光成像 PET-CT 光學(xué)授時(shí)與同步時(shí)間分辨測(cè)量單晶/合金信號(hào)同步成像

生物與健康

組織成像
CARS/SRS 光聲光譜與成像 OCT 血管成像顯微成像顯微位移機(jī)構(gòu) 藍(lán)光危害評(píng)價(jià) 光源頻閃測(cè)試眩光測(cè)試紫外殺菌燈輻射度測(cè)量防曬指數(shù)測(cè)量

生物顯微
顯微成像 CARS/SRS 光束整形/渦旋光光鑷/ 生物熒光細(xì)胞干物質(zhì)計(jì)量生物熒光拉曼生物自熒光熒光壽命拉曼測(cè)量醫(yī)學(xué)光度色度測(cè)試醫(yī)用照明測(cè)試

臨床醫(yī)學(xué)
醫(yī)療激光認(rèn)證化學(xué)發(fā)光測(cè)試儀光聲光譜與成像激光醫(yī)美血球分析多通道光子數(shù)據(jù)采集 CT/DR 呼吸末CO2、麻醉氣體血氧測(cè)試儀

化學(xué)與生物分析
伽馬和阿爾法輻射測(cè)試儀氣體分析生化分析薄膜膜厚測(cè)量量子效率測(cè)試溶液粒徑分析

環(huán)境監(jiān)測(cè)
TDLAS 激光雷達(dá) 熒光檢測(cè) 大氣雷達(dá)/LIBS/環(huán)境質(zhì)譜環(huán)境質(zhì)譜環(huán)境檢測(cè) 地物高光譜拉曼測(cè)量食品異物檢測(cè) VOC有害氣體檢測(cè) TOC有機(jī)總碳測(cè)試

食藥環(huán)偵

食品安全測(cè)試
近紅外光譜測(cè)試拉曼測(cè)量薄膜膜厚測(cè)量溶液粒徑分析食品中異物檢測(cè)

刑偵科學(xué)
指紋鑒定拉曼測(cè)量背散射成像 X射線安檢火災(zāi)探測(cè)

安防

無損檢測(cè)
人體/行李違禁物檢測(cè)

航空航天

空天動(dòng)力
PIV PLIF/PIV 燃燒診斷 PLIF 雜散光吸收激光雷達(dá) 單晶/合金遙感輻射度標(biāo)定太陽/星光光譜模擬遙感鏡頭雜散光模擬測(cè)試

空地遙感
空間觀測(cè)與LIDAR 空間光通訊液晶可調(diào)濾光片雜散光吸收遙感高光譜成像深空成像系統(tǒng)標(biāo)定高光譜成像校準(zhǔn)

計(jì)量檢疫

時(shí)頻基準(zhǔn)
原子冷卻光梳時(shí)間頻率標(biāo)定

激光認(rèn)證
光度色度計(jì)量照度計(jì)量

激光器篩選

波長(zhǎng)范圍：
全部深紫外（<200nm）紫外 (200 ~ 400nm）藍(lán)紫 (400 ~ 500nm）黃綠 (500 ~ 600nm) 紅色 (600 ~ 800nm) 近紅外 (0.8 ~ 2.5μm）中遠(yuǎn)紅外 (>2.5μm) 可調(diào)諧

輸出方式：
全部連續(xù)或準(zhǔn)連續(xù) 脈沖

平均功率：
全部 <1mW 1mW ~ 1W 1W ~ 10W 10W ~ 100W >100W

單脈沖能量：
全部 <1nJ 1nJ ~ 1μJ 1μJ ~ 1mJ 1mJ ~ 100mJ 100mJ ~ 1J >1J 不適用

脈沖寬度：
全部飛秒（<1ps）皮秒（1ps ~ 1ns）納秒（1ns ~ 1μs）長(zhǎng)脈沖（>1μs）不適用

重復(fù)頻率：
全部 1~999Hz 1kHz~10kHz 10kHz~100kHz 100kHz~1MHz 1MHz~100MHz >100MHz 不適用

線寬：
全部窄線寬不適用

科學(xué)相機(jī)篩選

相機(jī)類型：
全部 CCD EMCCD sCMOS ICCD NIR CCD SWIR 直接x-ray探測(cè)器非直接X-ray探測(cè)器中子相機(jī)

像面尺寸：
全部 ≤512ⅹ512 512ⅹ512~ 1024ⅹ1024 1024ⅹ1024~ 2048ⅹ2048 2048ⅹ2048~ 4096ⅹ4096 ≥4096ⅹ4096

通訊方式：
全部 USB 2.0 USB 3.0 Fibre Optic CoaXPress (4 Lane CXP-6) Camera Link Gigabit Ethernet

芯片感光方式：
全部前照式背照式

響應(yīng)范圍：
全部 200-1100nm 200-900nm 600-1700nm 800-2200nm 900-1700nm EUV-1keV NIR-20KeV 2-100keV 1-300KeV

最快全畫幅幀率（fps）：
全部 <1 1~ 50 50~ 100 >100

像素：
全部 1~ 5μm 5~ 10μm 10~ 15μm 15~ 20μm 20~ 25μm 25~ 30μm ≥30μm
010-62634840
資源

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BostonElectronic紅外LED光源

介紹： 波長(zhǎng)覆蓋從2.1μm到7μm

品牌： 美國(guó) Boston Electronics

型號(hào)： LED

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